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ZEISS Xradia Context microCT
品牌:
德国蔡司
型号:
ZEISS Xradia Context microCT
简介:
蔡司Xradia Context是一种大视场,非破坏性3D X射线微型计算机断层扫描系统。 借助强大的平台和灵活的软件控制源/探测器定位,您可以在完整的3D环境中对大型,重型(25 kg)和高样本进行成像,以及具有高分辨率和细节的小样本。
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ZEISS VoluMax CT
品牌:
德国蔡司
型号:
ZEISS VoluMax CT
简介:
高通量的计算机断层扫描技术
ZEISS VoluMax CT 系统是专为快速检测大量工件的应用需求而设计的。蔡司可根据不同的测量需求来定制相应的机型及软件。ZEISS VoluMax 可配置手动或自动上下料装置。
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1500 工业计算机断层扫描(CT)
品牌:
德国蔡司
型号:
1500 工业计算机断层扫描(CT)
简介:
基于 ZEISS METROTOM 的工业计算机断层扫描(CT) — 通往未来测量技术的大门。将您的工件放入测量舱,仅需一键启动扫描。完整深入的质量分析将能立刻呈现在您眼前。
METROTOM 1500 – 无论零件大小和材料密度,这台采用断层扫描技术的三坐标测量机是您应对大范围应用的理想机型。
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工业计算机断层扫描(CT)
品牌:
德国蔡司
型号:
ZEISS METROTOM
简介:
ZEISS METROTOM 是一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系统。
而在利用传统测量机测量时,此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。
利用蔡司的工业计算机断层扫描系统,仅需一次 X 射线扫描,即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台,满足客户对精度的高要求。
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