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非接触粗糙度轮廓仪

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非接触粗糙度轮廓仪

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简介：
微观形貌/光学粗糙度测量仪
市场上2D及3D表面特征评估完整版本. 此模块
综合了表面测量领域15年以来的经验, 是专业用
户不二选择
3D基本参数(Sa, Sq, St, Smr, ...)
表面校平、逐行校平、分区校平、镜像、旋转
空间滤波器、填充非测量点、设置阈值、纠正
行、修描表面点、反褶积
除去形状、标准滤波器、过滤频谱、设置频谱
阈值、傅里叶变换、子波转换、形态滤波
提取感兴趣区域、提取轮廓、二进制遮罩
转换成系列轮廓、二进制阈值设置、二进制分割
拼接
重采样
两个表面相减、表面自关联运算、两个表面相互
关联运算
3D视图、伪色视图、照片模拟、等高线
水平距离和高度测量、阶跃高度测量
表面图形分析（ISO 25178检测算法）、微波
谷网络相关参数分析、岛屿分析、顶点计数分
布、分形分析、孔和顶点体积测量、单个波谷
深度测量
频率分析（纹理方向、频谱、平均功率谱密度、
纹理均质性）
功能分析（Abbott曲线、Sk参数、体积参数、
切片）
公差极限（合格/不合格）显示
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非接触粗糙度轮廓仪

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简介：
白光干涉微观形貌及粗糙度仪设计用于高精度微观形貌分析及高精度粗糙度测量的应用。
3D基本参数(Sa, Sq, St, Smr, ...)
表面校平、镜像、旋转
空间滤波器、填充非测量点、设置阈值、修
描表面点
除去形状、标准滤波器
提取感兴趣区域、提取轮廓
重采样
3D视图、伪色视图、照片模拟
水平距离和高度测量、阶跃高度测量
顶点计数分布、孔和顶点体积测量
频率分析（平均功率谱密度）
功能分析（Abbott曲线、切片）
公差极限（合格/不合格）显示

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